DC-2000C超声波测厚仪详细介绍说明讨论

     DC-2000C超声波测厚仪是一种根据声波来测量物体厚度的仪器，它是利用声波发射，当声波碰到特体时返射回探头，然后再计算时其时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
    DC-2000C超声波测厚仪是采用的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作测量按超声波脉冲反射原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作测量，也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。
    DC-2000C超声波测厚仪影响测量精度的原因
    1、试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大。
    2、基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关。
    3、任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响。
    4、涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的。
    5、覆盖层厚度大于25μm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比。
    6、涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触。
    7、基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大。
    DC-2000C超声波测厚仪顾名思义是利用超声波脉冲反射原理来进行被检测物体厚度测量的，使用超声波测厚仪要求被测量物体内部材料均匀，超声波传播不会受到材料的影响为益，可采用此种仪器测量测量。当仪器探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。根据此种原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作测量。也可以应用于对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。超声波测厚仪如今已经被广泛的应用于冶金、石油、化工、造船、航空、航天等各个领域。
    DC-2000C超声波测厚仪可以满足您对超声波厚度测量的一切所需。机器仅重225克，外形美观小巧，只有几个按键，专为单手操作而设计。其中  DC-2000C超声波测厚仪能帮助你完成大量的测厚任务，尤其是磨损部件剩余壁厚的测量。